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半金属与半导体材料综合

搜索结果: 54 个产品, 第 1 页, 共 2 页
标准编号 标准名称 状态 发布日期
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范 现行 2019-03-25
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范 现行 2019-03-25
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法 现行 2018-12-28
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 现行 2018-12-28
GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱 现行 2018-12-28
GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱 现行 2017-12-29
GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范 现行 2017-10-14
GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范 现行 2015-12-10
GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 现行 2014-12-31
GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱 现行 2013-12-31
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 废止 2013-12-31
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 现行 2013-12-17
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 现行 2013-05-09
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 现行 2013-05-09
GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 现行 2012-12-31
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 现行 2011-01-10
GB/T 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范 现行 2011-01-10
GB/T 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 现行 2011-01-10
GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 现行 2011-01-10
GB/T 26069-2010 硅退火片规范 现行 2011-01-10
GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片 现行 2011-01-10
GB/T 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶 现行 2010-09-02
GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶 现行 2010-09-02
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 现行 2009-10-30
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法 现行 2009-10-30
GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 现行 2009-10-30
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 现行 2009-10-30
GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 现行 2009-10-30
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 现行 2009-10-30
GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 现行 2009-10-30
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