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元素半导体材料

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标准编号 标准名称 状态 发布日期
GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片 现行 2019-06-04
GB/T 14139-2019 硅外延片 现行 2019-06-04
GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片 现行 2019-06-04
GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块 现行 2019-06-04
GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片 现行 2018-09-17
GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶 现行 2018-09-17
GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片 现行 2018-09-17
GB/T 35307-2017 流化床法颗粒硅 现行 2017-12-29
GB/T 35310-2017 200 mm硅外延片 现行 2017-12-29
GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅 现行 2017-11-01
GB/T 25074-2017e 太阳能级多晶硅 现行 2017-11-01
GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法 现行 2016-04-25
GB/T 32573-2016 硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法 现行 2016-02-24
GB/T 12962-2015 硅单晶 现行 2015-12-10
GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 现行 2015-07-03
GB/T 12963-2014 电子级多晶硅 现行 2014-12-31
GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片 现行 2014-07-24
GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法 现行 2013-11-12
GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法 现行 2013-11-12
GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法 现行 2013-11-12
GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法 现行 2013-11-12
GB/T 29504-2013 300 mm硅单晶 现行 2013-05-09
GB/T 29506-2013 300 mm硅单晶抛光片 现行 2013-05-09
GB/T 29508-2013 300 mm硅单晶切割片和磨削片 现行 2013-05-09
GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块 现行 2012-12-31
GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片 现行 2012-12-31
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶 现行 2011-01-10
GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅 被代替 2010-09-02
GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法 现行 2009-10-30
GB/T 12963-2009 硅多晶 被代替 2009-10-30
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