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半导体集成电路

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标准编号 标准名称 状态 发布日期
GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法 现行 2018-06-07
GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法 现行 2018-06-07
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法 现行 2018-03-15
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 现行 2018-03-15
GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 现行 2018-03-15
GB/T 35004-2018 数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 现行 2018-03-15
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 现行 2018-03-15
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行 2018-03-15
GB/T 35008-2018 串行NOR型快闪存储器接口规范 现行 2018-03-15
GB/T 35009-2018 串行NAND型快闪存储器接口规范 现行 2018-03-15
GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 现行 2017-05-12
GB/T 14112-2015 半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 现行 2015-05-15
GB/T 15876-2015 半导体集成电路 塑料四面引线扁平封装引线框架规范 现行 2015-05-15
GB/T 15878-2015 半导体集成电路 小外形封装引线框架规范 现行 2015-05-15
GB/T 16525-2015 半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范 现行 2015-05-15
GB/T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分:数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器 空白详细规范 现行 2006-12-05
GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 现行 2006-12-05
GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范 现行 2006-12-05
GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路 现行 2006-10-10
GB/T 12750-2006 半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路) 现行 2006-08-23
GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路) 现行 2003-11-24
GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路集成电路动态 读/写存储器空白详细规范 现行 2003-11-24
GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 现行 2001-11-05
GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范 现行 2001-11-05
GB/T 5965-2000 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范 现行 2000-01-03
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 现行 2000-01-03
GB/T 17864-1999 关键尺寸(CD)计量方法 现行 1999-09-13
GB/T 17865-1999 焦深与最佳聚焦的测量规范 现行 1999-09-13
GB/T 17866-1999 掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则 现行 1999-09-13
GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范 现行 1998-11-17
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